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Zhenhua Road 200, West Lake Science and Technology Park, Hangzhou
Hangzhou Daji Optoelektronische Instrumente Co., Ltd.
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Zhenhua Road 200, West Lake Science and Technology Park, Hangzhou
Das GE-XP Cereal Quality Image Analysis System verwendet ein automatisiertes Bildanalysesystem zur Messung von Verunreinigungen und unvollkommenen Kornstoffen. Geeignet für die Prüfung verschiedener Getreidearten. Das System integriert die Computertechnologie und die Bildverarbeitungstechnologie, um die automatische Erkennung von Standardweizen, gebrochenem Weizen und exotischen Weizenschimmeln durch die Bildverarbeitung und die Klassifizierungsalgorithmen des BP-neuronalen Netzwerks durch CCD-Kameras, Zuführungs-, Antriebs- und Ausgabemechanismen sowie das automatische Bilderfassungssystem zu erreichen.
Hauptleistungsindikatoren:
1. Reis: Ungreife Korn, Würmer, Plaken, Keime, Schimmel. Genauigkeit ≥95%
2. Weizen: Zerbrochene Korn, Würmer, Plaken, Keime, Schimmel. Genauigkeit ≥95%
3. Mais: Zerbrochene Korn, Wormschädiger Korn, Plaque Korn, Keime Korn, Schimmelmut Korn, Hitze Schädigung Korn. Genauigkeit ≥95%
4. Reis: Kreideweiß Kornrate, Korngröße, gelber Reis, Kreideweiß. Genauigkeit ≥95%