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Shanghai Pudan Optische Instrumente Co., Ltd.
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MM-30 umgekehrtes Metallphasemikroskop

VerhandlungsfähigAktualisieren am05/25
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Übersicht

MM-30 umgekehrtes Metallphasemikroskop

Produktdetails

Produkteigenschaften

  • Ausgezeichnetes optisches System für unbegrenzte Entfernungen, das eine hervorragende optische Leistung bietet;

  • Kompakter, stabiler, hochstahliger Hauptkörper, der die schockdichten Anforderungen des Mikrobetriebs vollständig widerspiegelt;

  • Sichtfeld mit Flachfeld-BreitwinkelΦ22mmdie Sicht weitreichender und bequemer zu machen;

  • Mechanische mobile Tragplattform, eingebaute drehbare runde Tragplatte, geeignet für die Mikrobeobachtung und Polarisationsbeobachtung verschiedener Spezifikationen;

  • Die hintere Kamera-Schnittstelle ist so konzipiert, dass das Kamera-Zubehör die visuelle Beobachtung nicht mehr stört (mit 100% Lichtdurchlässigkeit, geeignet für Mikrofotokameras mit geringer Beleuchtung)

  • Modulares Funktionsdesign, das das Upgrade des Systems erleichtert, um polarisierte Beobachtung, dunkle Sichtfeldbeobachtung und andere Funktionen zu erreichen;

Produktverwendung

30SerieUmkehrtes MetallmikroskopHauptFür die Identifizierung und Analyse der Organisationsstruktur verschiedener Metalle, Legierungsmaterialien und Nichtmetallmaterialien, weit verbreitet in Fabriken oder Laboren zur Rohstoffprüfung, Qualitätsbestimmung von Gussstücken oder Metallphase-Analyse nach der Materialbehandlung und Forschungsarbeiten zu einigen Oberflächenphänomen wie Oberflächenriss und Beschichtung, ist die Metallphase-Analyse von Stahl, Nichtmetallmaterialien, Gussstücken, Beschichtungen, geologische Gesteinsphase-Analyse und ein effektives Mittel für die Mikroforschung von Verbindungen und Keramiken in der Industrie, ist das notwendige Instrument für die Metallologie und Materialforschung der Organisationsstruktur des Materials, ist auch ein leistungsstarker Assistent im Bereich der Forschung und Lehre.

WennOptional erwerben Sie die "professionelle quantitative Analysesoftware für die Metallographie" zur Echtzeit-Forschungsanalyse der Metallographie, wie Korngrößenmessungsbewertung, Nichtmetallmischungsmessungsbewertung, Perlenkörper/Messwertung des Ferritingehalts,Meßwertung der Grafifizierungsrate von Ink-Gusseisen, Dekarbonisierungsschicht/Analyse, Statistik und Ausgabe von Bildberichten für die Messung der Karbonisierungsschicht, die Messung der Oberflächenbeschichtungsdicke usw.

Produktspezifikationen

Spezifikationsparameter MM-30
Lichtwegsystem Unbegrenzte Fernkorrekturoptik
Beobachten Sie Kopf 45° Schrägscharnierte Doppelkopf, verstellbare Sicht, Augenaufstandseinstellungsbereich: 53mm-75mm
45° Dreiköpf geneigt, verstellbare Sicht, 100% durchlässige Fotografie  
Große Sichtbrille WF10X(Φ22mm)/WF10X Trennbrille
Unbegrenzte Lange Arbeitsdistanz Flachfeld Farbdifferenz goldenes Objektiv Vergrößerung Numerischer Durchmesser (N.A.) Arbeitsabstand (W.D.)
0.12 26.10mm
10× 0.25 20.20mm
20× 0.4 8.80mm
50×(S) 0.7 3.68mm
100× (trocken) 0.85 0.40mm
Vergrößern 50×-1000× (kann auf 2000× aktualisiert werden)
Objektiv Rotationsrad Fünfloch-Objektivumsetzer
Laststelle Doppelschichtige mechanische bewegliche Plattform, mittlere runde drehbare Tragplatte Ф130mm-Ф12mm
Fläche 242mmX200mm, Bewegungsbereich: 30mmX30mm
Fokussierungsorgane Große, mikrodynamische Koaxialfokussierung mit Verriegelung und Positionsbegrenzung
0,002 mm, Fokusbereich 30 mm
Einfache Polarisation Integrierte Spiegel- und Inspektionsgruppe
Beleuchtungssystem Lichtleiste mit variablem Durchmesser und verstellbarer Sichtfeldleiste, Filterpalettenstecker
6V/30W Halogenlampe, Helligkeit einstellbar
Halogenlampe von 12V/50W, Sammler, Helligkeit einstellbar (Dunkelfeld)  
Upgradeable Zubehör Brille: 16×/20×, Objektiv: 5×/60×/80×
Dunkelfeldbeobachtungssystem
DIC Differential Interference Beobachtungssystem
PUDA High Pixel Digital Imaging System
Quantitative Analysesoftware für professionelle Metallographie
Hinweis: ● als Standard, ○ als erweiterbares Zubehör

InstrumentEinrichtungseinheit

Komplettheit der Instrumente
1. 1 Geräte 4 Aufteilung einer Brille 1 Mikrometer messen Filterplatte 1 Stück 1 Ersatzsicherung
2 Brille 1 Gruppe 5 Objektivräder 1 Tragfläche 1 1 nationale Stromkabel 1 Werkzeugstaubschutz
3 Brillen 2 6 Objekte 5 9 Werkstückfedern 1 1 Ersatzlampe Zufällige Dateien 1 Satz

Konfiguration digitaler Anwendungen

MM-30C Computer Kamerasystem MM-30D Digitalkamera Kamera
MM-30 Triangular Goldphasemikroskop MM-30 Triangular Goldphasemikroskop
Hochwertiger CCD-Spiegel Speziale Verzögerungsspiegel für Digitalkameras
PUDA 14 Millionen importierte USB-Chip-Mikroskopkamera (mit APTINA High-Performance-Chipset / USB2.0 High-Speed-Kommunikation, hoher Auflösung, perfekter Farbwiederherstellung / Ultra-Fine patentierte Farbrendering-Technologie) 10 Megapixel Digitalkamera (Nikon empfohlen)
ToupView professionelle Bildsoftware