MM-30M Advanced Inverted Metallphase Mikroskop

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MM-30M Advanced Inverted Metallphase Mikroskop

Produktdetails

Produkteigenschaften

Ø Ausgezeichnetes optisches System mit unbegrenzter Entfernung, das eine hervorragende optische Leistung liefert;

Ø Kompakter und stabiler hochstahliger Hauptkörper, der die schockfesten Anforderungen des Mikrobetriebs vollständig widerspiegelt;

Ø hoher Augenpunkt ultrabreites Sichtfeld Flachglas, Sichtfeld bis Φ22mm, bietet einen breiteren flachen Beobachtungsraum;

Ø unbegrenzte weite Flachfeld halbfach Farbdifferenz super lange Arbeitsabstand professionelle metallische Objektive, keine Abdeckschiene Design;

Ø Koaxiale niedrige Hand-Verstellung Bewegungsständer und Tragstisch-Verlängerungsplatten können hinzugefügt werden, um den Anwendungsraum zu erweitern und die unterschiedlichen Bedürfnisse der Kunden zu erfüllen;

Ø Modulares Funktionsdesign, das das Upgrade des Systems erleichtern kann, um polarisierte Beobachtung, dunkle Sichtfeldbeobachtung und andere Funktionen zu erreichen;

Produktverwendung

MM-30MSerieUmkehrtes MetallmikroskopHauptsächlich zur Identifizierung und Analyse der Organisationsstruktur verschiedener Metalle, Legierungsmaterialien und Nichtmetallmaterialien, weit verbreitet in Fabriken oder Laboren zur Rohstoffprüfung, Qualitätsbestimmung von Gussstücken oder Metallphase-Analyse nach der Materialverarbeitung und Forschungsarbeit zu einigen Oberflächenphänomen wie Oberflächenriss und Beschichtung, ist die Metallphase-Analyse von Stahl, Nichtmetallmaterialien, Gussstücken, Beschichtungen, geologische Gesteinsphase-Analyse und ein effektives Mittel für die Mikroforschung von Verbindungen und Keramiken in der Industrie, ist das notwendige Instrument für die Metallologie und Materialforschung der Organisationsstruktur des Materials, ist auch ein leistungsstarker Assistent im Bereich der Forschung und Lehre.

Wenn Sie die "professionelle Quantitative Analyse-Software" für die Metallographie kaufen, können Sie die Echtzeit-Forschungsanalyse der Metallographie durchführen, wie z. B. die Korngrößenmessung, die Messung von Nichtmetallmischungen, die Messung von Perlen- / Ferritingehalten, die Messung von Inktgusseisengrafitierungsraten, die Messung von Dekarbonisierungsschichten / Karbonisierungsschichten, die Messung von Oberflächenbeschichtungsdicken usw.

Produktspezifikationen

Spezifikationsparameter				MM-30M
Lichtwegsystem	Unbegrenzte Fernkorrekturoptik			●
Beobachten Sie Kopf	Scharnier drei Beobachtungskasten, 45Drehen um 360°; Augenbereich: 54mm bis 75mm			●
	Sichtverstellung ± 5°; Beobachtungs- und Fotografieverhältnis8:2			●
Brille	Hohe Augenbrille mit großem Sichtfeld WF10X (Φ22mm)			●
Unbegrenzte Lange Arbeitsdistanz Flachfeld Farbdifferenz Objektiv	Vergrößerung	Numerischer Durchmesser (N.A.)	Arbeitsabstand (W.D.)	●
	5×	0.15	10.80mm
	10×	0.3	10.00mm
	20×	0.45	4.00mm
Unbegrenzte Lange Arbeitsabstand Flachfeld Halbverschleiß Metallobjekte	50×	0.55	7.80mm
	100×	0.8	2.10mm
Vergrößern	50×-1000× (kann auf 2000× aktualisiert werden)			●
Objektiv Rotationsrad	Fünfloch-Objektivumsetzer			●
Laststelle	Metallträgerplatte (Mittellochdurchmesser 12) Doppelschichtige mechanische Bewegungsplattform			●
	Feste Plattformgröße: 160mmX250mm, Bewegungsweg 120 (X) 78 (Y) mm
Fokussierungsorgane	Große, mikrodynamische Koaxialfokussierung mit Verriegelung und Positionsbegrenzung			●
	Mikro-Grid-Wert 0,002mm, grober Durchgang38mm、 Maximale Probenhöhe 30mm
Einfache Polarisation	Spiegelstecke,360Drehbare Spiegelplatte			●
Farbspiegel	Φ32mm gelb / grün / blau / neutral			●
Beleuchtungssystem	Reflektierende COLLA-Beleuchtung mit variablem Durchmesser und mittlerem verstellbarem Sichtfeld			●
	90-240V Breitspannungsadaptive, reflektierende Cora-Beleuchtung
	Halogenlampe 12V/50W mittig einstellbar, Helligkeit einstellbar
Digitale Bildgebungssysteme	Hohe Qualität 0,5 x			CCD fokussierbarer Spiegel
	●1Puda-5
	Digitale Mikroskopkamera mit 0D-Importchip CCD (mit SONY ICX452AQ, 1/1,8" High-Performance-Chipset / USB2.0)
Hochgeschwindigkeitskommunikation, hohe Auflösung, perfekte Farbwiedergabe / Ultra-Fine patentierte Farbwiedergabe)	ToupView professionelle Bildsoftware5Upgradeable Zubehör			Brillen: 1
	10× (Aufteilung)4○Objektiv:			0×/6
	0×/80×			○
	Dunkelfeldbeobachtungssystem			○
	DIC Beobachtungssystem			○
	PUDA High Pixel Digital Imaging System			○
Quantitative Analysesoftware für professionelle Metallographie

○
Hinweis: ● als Standard, ○ als erweiterbares Zubehör

Besondere Erklärung:· Änderungen ohne vorherige Ankündigung

·Pudan unternimmt alle Anstrengungen, um Ihnen genaue und umfassende Informationen zur Verfügung zu stellen, übernimmt jedoch keine Haftung für mögliche Fehler oder Auslassungen in den Informationen.

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