MM-70 Plattform zur Erkennung der Positionsphase

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MM-70 Plattform zur Erkennung der Positionsphase

Produktdetails

Produktverwendung

70SerieGroße PlattformGeradeGoldphasemikroskopGroße Tragstelle mit schneller und langsamer Bewegung mit großem Sichtfeld, hoher Bildqualität und erweiterbarer Funktionalität(Dunkle Sicht/DICBeobachten)Eigenschaften; Besonders geeignet für die Prüfung von Halbleitermaskenplatten, Flüssigkristallplatten oder anderen Flachbildschirmen und verschiedenen industriellen Geräten; Upgrade auf eine digitale Mikrokamera je nach Kundenbedürfnis

Erweiterbare Funktionen

Wählen Sie ein hochpixeliges Computerbildsystem aus und verarbeiten, bearbeiten, speichern und ausgeben Sie das Bild durch einen Computer(wie zum Drucken usw.)Oder Zugang zu Multimedia-Systemen und E-Mailboxen, die mit den neuen Technologien in der heutigen Welt im Bereich der Mikroskopie synchronisiert sind.

Sie können auch die "professionelle quantitative Analysesoftware für Metallophasen" erwerben, um Echtzeit-Forschungsanalysen für Metallophasen durchzuführen, wie z. B. Korngrößenmessungsbewertung, Nichtmetallmischungsmessungsbewertung, Perlenkörper/Messwert des Ferritingehalts, Messwert der Grafifizierungsrate von Tintgusseisen, Dekarbonisierungsschicht/Analyse, Statistik und Ausgabe von Bildberichten für die Messung der Karbonisierungsschicht, die Messung der Oberflächenbeschichtungsdicke usw.

Produktspezifikationen

Spezifikationsparameter				MM-70
Lichtwegsystem	Begrenzte Entfernung160mmMechanische Zylinderlänge			●
Beobachten Sie Kopf	Doppelkopf mit 30° Schrägscharnier, verstellbarer Sicht, Augenaufstandseinstellungsbereich: 55mm-75mm			●
	30° Neigungskopf, verstellbare Sicht, 100% Lichtdurchlässigkeit
Große Sichtbrille	WF10X(Φ18mm)			●
Lange Arbeitsdistanz Flachfeld Farbdifferenz Objektiv	Vergrößerung	Numerischer Durchmesser (N.A.)	Arbeitsabstand (W.D.)	●
	5×	0.12	18.30mm
	10×	0.25	8.90mm
	20×	0.4	8.60mm
	40×(S)	0.6	3.70mm
	80×(S)	0.8	0.96mm
Vergrößern	50×-800× (kann auf 2000× aktualisiert werden)			●
Objektiv Rotationsrad	Vierlöcher Inwärtsobjektivwandler			●
Laststelle	Mechanisch bewegliche große Plattform, schnell und langsam bewegbar			●
	Fläche 250mmX230mm, Bewegungsbereich: 154mmX154mm
Fokussierungsorgane	Große, mikrodynamische Koaxialfokussierung mit Verriegelung und Positionsbegrenzung			●
	Mikrodynamikvert 0,7 μm
Einfaches Polarisationssystem	Integrierte Spiegel- und Inspektionsgruppe			●
Reflexbeleuchtungssystem	Lichtleiste mit variablem Durchmesser und verstellbarer Sichtfeldleiste, Filterpalettenstecker			●
	6V/20W Halogenlampe, Helligkeit einstellbar
Upgradeable Zubehör	Brille: WF10X (Φ18mm) Trennbrille			○
	Objektiv: 50×/60×/100× (trocken)			○
	PUDA High Pixel Digital Imaging System			○
	Quantitative Analysesoftware für professionelle Metallographie			○
Hinweis: ● als Standard, ○ als erweiterbares Zubehör

Komplettheit der Instrumente

Komplettheit der Instrumente
1. 1 Geräte	4 Objektiv Rotator 1	Große Tragstelle 1	Beleuchtungssystem 1 Satz	1 Ersatzsicherung
2 Brille 1 Gruppe	5 Objekte	1 Linse aufnehmen	1 nationale Stromkabel	1 Werkzeugstaubschutz
3 Brillen 2	6 Mikrometer 1 Stück	9 Farbfilter 1 Stück	1 Ersatzlampe	Zufällige Dateien 1 Satz

Konfiguration digitaler Anwendungen

MM-70C Computer Kamerasystem		MM-70D Digitalkamera Kamera
⑴	MM-70 Triangular Goldphasemikroskop	⑴	MM-70 Triangular Goldphasemikroskop
⑵	Hochwertiger CCD-Spiegel	⑵	Speziale Verzögerungsspiegel für Digitalkameras
⑶	PUDA 3 Millionen importierte USB-Chip-Mikroskopkamera (mit US-amerikanischem APTINA-Hochleistungschipset / USB2.0-Hochgeschwindigkeitskommunikation, hohe Auflösung, perfekte Farbwiedergabe / Ultra-Fine-patentierte Farbwiedergabe)	⑶	10 Megapixel Digitalkamera (Nikon empfohlen)
⑷	ToupView professionelle Bildsoftware

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