Details zum Multifunktionalitätskombinat der Röntgendifferatoren der Serie Ultima IV:

1. Instrumenteinführung

Kombinierte MultifunktionalitätXStrahlendifferatorUltima IVDie Serie ist ein leistungsstarkes, vielseitiges KristallXStrahlendifferator, der die Wissenschaft verwendet*CBOKreuz-optisches System, ein Instrument kann von gewöhnlichen Pulverproben bis einschließlich durchgeführt werdenIn-PlaneInklusive Filmprobentest. Mit einer kombinierten Struktur können verschiedene Tests durch verschiedene Kombinationen der einzelnen Einheiten durchgeführt werden.

Technische Parameter

1. XDie Leistung des Strahlengenerators ist3KW

2. Winkelmesser als horizontales Winkelmesser

3. Winkelmesser zui kleine Schritte für1/10000Grad

4. Programmierbare variable Schlitze für Winkelmessgeräte

5. Graphitmonochrome mit hoher Reflexionseffizienz

6. CBOKreuzungsoptische Wege, die einen fokussierten Lichtweg und eine hohe Intensität mit hoher Auflösung bietenMirror(nur wissenschaftlich)

7. Kleine Winkelstreuung Testkomponenten

8. Mehrzweckfilm-Testkomponenten

9. Mikrozonen-Testkomponenten

10. In-PlaneTestkomponenten (exklusiv für Wissenschaft)

11. HochgeschwindigkeitsdetektorD/teX-Ultra

12. XStrahlendiffraktion-Gleichzeitiges Messgerät für Differential Scan ThermometerXRD-DSC

13. Analysesoftware umfasst:XRDAnalyse von Softwarepaketen,NANO-SolverSoftwarepakete,GXRRSoftwarepakete usw.

III. Hauptmerkmale

Kombinierte MultifunktionalitätXStrahlendifferatorUltima IVDie Serie kann in verschiedenen Bereichen der Materialstrukturanalyse weit verbreitet werden.

Zu den Materialien, die analysiert werden können, zählen: Metalle, anorganische Materialien, Verbundstoffe, organische Materialien, Nanomaterialien und überleitende Materialien.

Zu den analysierbaren Materialzuständen gehören: Pulverproben, Blockproben, Folienproben, Mikrozonenproben

Hauptanwendungen sind:

1. Qualitative und quantitative Analyse von Pulverproben

2. Berechnung der Kristallisierung, Korngröße

3. Bestimmung des Kristallsystems, der Korngröße und der Verzerrung

4. RietveldStrukturanalyse

5. Analyse von Folienproben, einschließlich Folienphase, Foliendicke mit mehreren Schichten, Oberflächenrauheit und Ladungsdichte

6. In-PlaneDas Gerät kann sowohl die Struktur der vertikalen Richtung der Probe als auch die Struktur der Tiefenrichtung der Probe messen

7. Kleine Winkelstreuung und Partikelgrößenverteilung von Nanomaterialien

8. Analyse von Mikroproben