XPL-40 Mineralphase Analyse Polarisationsmikroskop

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XPL-40 Mineralphase Analyse Polarisationsmikroskop

Produktdetails

Produktverwendung

XPL-40Konfiguration von spannungsfreien Flachfeldobjektiven, bessere Bildqualität;Dieses Instrument verwendet die polarisierenden Eigenschaften des Lichts, um ein notwendiges Instrument zur Untersuchung der Identifizierung von doppelt brechenden Substanzen zu verwenden, das für eine Vielzahl von Benutzern zur Monopolarisierungsbeobachtung, zur Ortogonalen Polarisationsbeobachtung, zur Kegelbeobachtung und zur Mikrofotografie geeignet ist; Gleichzeitig mit Gips konfiguriertλFilm, Wolkenmutterλ/4Zubehör wie Scheiben, Quarzscheiben und Bewegungsstänge ist eine neue Reihe von Produkten mit voller FunktionalitätIn.Viele Branchen wie chemische Fasern, Halbleiterindustrie und Arzneimittelprüfung sind weit verbreitet.

Produktspezifikationen

Spezifikationsparameter				XPL-40
Lichtwegsystem	160 mm mechanische Zylinderlänge mit begrenzter Entfernung			●
Beobachten Sie Kopf	Scharnierbarer Doppelkopf, 30° Neigung, verstellbare Sicht			●
	Dreifacher Kopf, 30° Neigung, verstellbare Sicht, 100% Lichtdurchlässigkeit
Brille	WF10X(Φ18mm)/WF10X Trennbrille			●
Beanspruchungsfreie Flachfeld-Farbdifferenz-Objektive(Ohne Deckel)	Vergrößerung	Numerischer Durchmesser (N.A.)	Arbeitsabstand (W.D.)	●
	4×	0.1	19.8
	10×	0.25	8.8
	40×(S)	0.6	3.73
	60×(S)	0.75	1.34
Vergrößern	40×-600×			●
Objektiv Rotationsrad	Vierloch Objektivumsetzer			●
Laststelle	360°-Drehtesch (Durchmesser: Φ150 mm), mittig verstellbar, mit Verriegelungseinrichtung, Cursor-Grid-Wert 6			●
Fokussierungsorgane	Große, mikrodynamische Koaxialfokussierung mit Verriegelung und Positionsbegrenzung			●
	0,002 mm, Fokusbereich 30 mm
Polarisationseinrichtung	360° drehbarer Polarisator mit vier Messungen von 0, 90, 180 und 270			●
Kompensator	Gips λ-Scheiben, Wolkenmutter λ/4-Scheiben, Quartz Persistenz			●
Mittellinse	Integrierter Inspektor, freier Wechsel zwischen Normalbeobachtung und Polarisierung, 360° Polarisierungsrichtung drehbar, mit Maßstab, Cursor-Grid-Wert 12, Einschubspiegel, Mitteleinstellbar			●
Beleuchtungssystem	Fokus NA.1.25 mit variablem Lochdurchmesser und verstellbarem Sichtfeld, Filterträger			●
	Lichtaufnehmer (für Halogenlampenbeleuchtung), 6V/20W Halogenlampe, Helligkeit einstellbar
Upgradeable Zubehör	Brille: WF16X (Φ11mm)			○
	Objektiv: 20 × / 50 × / 80 × / 100 × (trocken)			○
	Bewegungsbereich: 30mmX25mm			○
	Hochtemperaturheizung			○
	PUDA High Pixel Digital Imaging System			○
	Partikelanalyse Statistik Software			○
Hinweis: ● als Standard, ○ als erweiterbares Zubehör

Komplettheit der Instrumente

Komplettheit der Instrumente
1. 1 Geräte	4 Brillen 2	Drehträger 1	Kompensator 3 Stück	1 Ersatzsicherung
2 Brille 1 Gruppe	5 Teilen Sie eine Brille	Werkstückfedern 1 Satz	1 nationale Stromkabel	1 Werkzeugstaubschutz
4 Objekte	6 Mikrometer 1 Stück	9 Farbfilter 2 Stücke	1 Ersatzlampe	Zufällige Dateien 1 Satz

Konfiguration digitaler Anwendungen

XPL-40C Computer Kamerasystem		XPL-40D Digitalkamera Kamera
⑴	XPL-40 Tripolarisierungsmikroskop	⑴	XPL-40 Tripolarisierungsmikroskop
⑵	Hochwertiger CCD-Spiegel	⑵	Speziale Verzögerungsspiegel für Digitalkameras
⑶	PUDA 3 Millionen importierte USB-Chip-Mikroskopkamera (mit US-amerikanischem APTINA-Hochleistungschipset / USB2.0-Hochgeschwindigkeitskommunikation, hohe Auflösung, perfekte Farbwiedergabe / Ultra-Fine-patentierte Farbwiedergabe)	⑶	10 Megapixel Digitalkamera (Nikon/Sony empfohlen)
⑷	ToupView professionelle Bildsoftware

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