Japanisches Röntgenfluorescenzspektrometer ZSX Primus III+

Japanische WissenschaftWellenlängen-Diffusion-RöntgenfluorescenzspektrometerHochleistungs-WDXRF für schnelle quantitative Elementanalyse!

ZSX Primus III+

ZSX Primus III+ bietet eine schnelle quantitative Messung von primären und sekundären Atomelementen, von Sauerstoff (O) bis hin zu Uran (U) für eine breite Palette von Probentypen mit Mindeststandards.

Hohe Zuverlässigkeit der oberen Lichtoptik

Der ZSX Primus III+ verfügt über eine neue optische Konfiguration mit oberer Beleuchtung. Der Anwender muss sich keine Sorgen mehr über die Wegbeschmutzung oder die Stillstandszeit durch die Wartung der Probenraume machen. Die obere bestrahlte Geometrie beseitigt die Befürchtung der Reinigung und erhöht die Zeit.

Präzise Probenpositionierung

Die hochpräzise Positionierung der Probe gewährleistet einen konstanten Abstand zwischen der Probenoberfläche und dem X-Absorptionsrohr. Dies ist wichtig für Anwendungen, die eine hohe Präzision erfordern, wie z. B. die Legierungsanalyse. Der ZSX Primus III+ führt eine hochpräzise Analyse mit einer einzigartigen optischen Konfiguration durch, um Fehler aufgrund von nicht ebenen Oberflächen in Proben wie Elektroschmelzbath und Preßplatten zu reduzieren.

SQX Grundparametersoftware und EZ-Scan-Software

Mit der EZ-Scan-Software können Anwender Positionsproben ohne Voreinstellung analysieren. Diese zeitsparende Funktion erfordert nur einen Mausklick und die Eingabe des Namens der Probe. In Kombination mit der SQX-Parametersoftware liefern Sie schnell die genauesten XRF-Ergebnisse. SQX korrigiert automatisch alle Matrixeffekte, einschließlich Linienüberlappungen. SQX kann auch durch die Korrektur von Optoelektroniken (leichte und ultraleichte Elemente), veränderten Umgebungen, Verunreinigungen und unterschiedlichen Probengrößen unterstützt werden. Erhöhen Sie die Genauigkeit mit einer passenden Bibliothek und einem perfekten Scan-Analyseprogramm.

Features

Elementaranalyse von O bis U

Oberstrahloptik minimiert Verschmutzung

Kleine Fläche spart Laborplatz

Präzise Probenpositionierung

Spezielle Optik reduziert Fehler durch gebogene Probenoberflächen

Software-Tools für die statistische Prozesssteuerung (SPC)

Optimierung der Pumpe- und VakuumleckrateVerbesserung des Durchsatzes