Kälte-Wärme-Schlag-Testbox (Hoch-Tief-Temperatur-Schlag-Testbox) drei Kisten

Haupttechnische Parameter

Modellnummer

Atelier (B × D × H) (mm)

Außenform (ca.) (W x D x H) (mm)

Tragkorb Studio (W x D x H) (mm)

GDCJ-100-3

450×450×500

1700×1250×1700

150×150×200

GDCJ-150-3

500×500×600

1750×1300×1800

200×200×300

GDCJ-225-3

500×600×750

1750×1400×1900

200×350×350

GDCJ-250-3

600×600×700

1850×1400×1900

300×300×350

GDCJ-408-3

600×800×850

1850×1500×1950

300×500×500

GDCJ-500-3

700×800×900

1950×1500×2000

400×500×500

GDCJ-800-3

800×1000×1000

2000×1700×2200

500×600×600

GDCJ-010-3

1000×1000×1000

2200×1700×2200

600×600×600

Niedriger Treibhaustemperaturbereich: RT ~ -70 ℃ auf Anfrage angepasst

Hoher Treibhaustemperaturbereich: RT ~ + 200 ℃ Auf Anfrage angepasst

Aufpralltemperaturbereich: -20 ℃~+160℃、-40℃~+160℃、-50℃~+160℃、-60℃~+160℃、 -70℃~+160℃、 -80℃~+160℃、 -100℃~+160℃ Auf Anfrage auswählbarAufpralltemperaturbereich

Hinweis: Nicht-Standardgrößen können nach Kundenanforderungen angepasst werden

ProdukteEigenschaften

Diese Schlagprüfbox ist eine dynamische kalte und wärmewechselnde Schlagmethode, die getestet werden soll. Diese Methode ist die modernste Hoch- und Tieftemperatur-Schlagmethode, die weit verbreitet wird, um elektronische Komponenten zu testen, Autoteile, Halbleiter, elektronische Leiterplatten, Metallchemie, Materialien und andere Testgeräte.Die Testkammer verfügt über eine dreifache Struktur, die in die Hochtemperaturzone, die Tieftemperaturzone, die Normaltemperaturzone und die Normaltemperaturzone unterteilt ist, nämlich die Produkttestzone, die durch die Windtür der Hochtemperaturzone und der Tieftemperaturzone gesteuert wird.

Konformität mit den Standards

1.GB / T2423.22-93 Test Na Elektrotechnik Elektronik Umweltprüfung Temperaturstoßprüfung

2.GJB360.7-87 Temperaturstoßprüfmethode

3.GJB367.2-87 405 Temperaturstoßprüfverfahren

4.GJB150.5-1986 Temperaturstoßprüfung

Hauptleistungsparameter

Temperaturabweichung

≤± 2,0 ℃ (leer)

Temperaturschwankungen

≤± 0,5 ℃ (Leerlast)

Probenanlage

Dynamisch (mobile Produkte)

Abkühlungszeit

RT-70°C ca. 50 Minuten (leer)

Aufwärmzeit

RT ~ + 200 ° C ca. 50 Minuten (leer)

Temperatur Reaktionszeit

≤5min

Temperaturumwandlungszeit

≤5s

Probenbewegung

Pneumatische

Steuerungssystem

Anzeige

7-Zoll-Echtfarb-Touchscreen-Steuergerät, einfache Bedienung, einfache Einstellung, Temperaturgenauigkeit von 0,01 ° C, mehr als 1200 Programmierungsabschnitte

Betriebsweise

Freie Umstellung von Programmen oder Werten